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Caractéristiques techniques Analyse d'une structure de cristal cubique - Méthode depoudres selon Debye-ScherrerNuméro d'article: P2541405 Principe Lorsque des échantillons polycristallins sont irradiés par des rayons X, il en résulte un diagramme de diffraction caractéristique. Ces réflexions de Debye-Scherrer sont photographiées et ensuite évaluées. Objectifs
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Robert-Bosch-Breite 10 – 37079 Göttingen – Deutschland
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